Essai environnemental de fiabilité de semi-conducteur

Les dispositifs de semi-conducteur sont très sensibles aux impuretés et à la poussière. Par conséquent, il est très nécessaire de commander exactement le niveau des impuretés et de la poussière dans le processus de fabrication compliqué. La qualité du produit fini est suffisante pour chaque étape de production relativement indépendante et interactive dans la production, telle que la métallisation, le matériel de puce, l'emballage, etc.

En raison de l'avancement rapide de la technologie, des nouveaux matériaux et des nouveaux processus constamment sont employés dans des dispositifs developpés récemment, et le marché continue à proposer des conditions exigeantes pour le temps de conception, ainsi il est fondamentalement impossible d'exécuter la conception de fiabilité selon les produits existants. Afin de réaliser certains indicateurs économiques, des produits semiconducteurs sont toujours fabriqués en grande quantité ; et il est impraticable de réparer les produits semiconducteurs. Par conséquent, c'est devenu une condition très nécessaire pour que les produits semiconducteurs ajoutent le concept de la fiabilité dans l'étape de conception et de réduisent des variables dans l'étape de production.

La fiabilité des dispositifs de semi-conducteur dépend de l'assemblée, de l'utilisation, et des conditions environnementales. En influençant des facteurs incluez le gaz, la poussière, contamination, tension, densité de courant, la température, humidité, effort, échangeant la vibration, la force grave de vibration, de pression et de champ électromagnétique.

Essai environnemental de fiabilité de semi-conducteur
■La température et test cyclique de polarisation d'humidité
■Essai de durée humide équilibré de polarisation de la chaleur
■Fortement accéléré faisant cuire l'essai
■Essai à hautes températures de durée de stockage
■Test cyclique de la température
■Puissance-sur le test cyclique de la température
■Essai à chocs de la température
■Essai à l'embrun salin
■Essai polarisé de vie active de la température
■Essai de durée fortement accéléré
■Essai de durée sans prévention fortement accéléré
■Essai de fréquence de vibration et de champ